光源系統(tǒng)故障
氘燈或鎢燈損壞是核心問(wèn)題。當(dāng)儀器提示"能量太低"時(shí)，需優(yōu)先檢查光源壽命。例如，氘燈在起輝瞬間閃動(dòng)或燈絲發(fā)紅但無(wú)法正常起輝，通常因起輝電路故障或燈電流調(diào)整晶體管損壞。鎢燈失效表現(xiàn)為兩端電壓正常但燈不亮，需用萬(wàn)用表檢測(cè)燈絲電阻。保險(xiǎn)絲熔斷可能伴隨供電異常，需檢查電源電壓穩(wěn)定性。

信號(hào)傳輸異常
通訊錯(cuò)誤常源于數(shù)據(jù)線接觸不良。若自檢提示"通訊錯(cuò)誤"，應(yīng)檢查RS232/USB接口連接狀態(tài)，確認(rèn)軟件配置的COM口與實(shí)際端口匹配。零點(diǎn)漂移問(wèn)題多見(jiàn)于簡(jiǎn)易儀器，其炭膜電阻電位器因接觸不良導(dǎo)致，需更換高精度電位器。當(dāng)吸光值出現(xiàn)負(fù)值時(shí)，需確認(rèn)是否執(zhí)行空白記憶操作，并檢查參比液與樣品液的吸光值關(guān)系。

光學(xué)系統(tǒng)故障
基線噪聲異常涉及多維度因素。全波長(zhǎng)基線噪聲大時(shí)，需檢查光源鏡位置是否偏離入射狹縫中央，同時(shí)確認(rèn)石英窗表面是否存在樣品濺射污染。紫外區(qū)噪聲突出時(shí)，需排查氘燈老化程度，或通過(guò)研磨濾光片消除結(jié)晶物。波長(zhǎng)校準(zhǔn)失敗時(shí)，可通過(guò)656.1nm特征譜線驗(yàn)證，高檔儀器可調(diào)用自動(dòng)校正功能，簡(jiǎn)易儀器需專業(yè)人員調(diào)整波長(zhǎng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)。

機(jī)械結(jié)構(gòu)問(wèn)題
樣品架定位偏差直接影響測(cè)量重復(fù)性。當(dāng)吸光值信號(hào)擺動(dòng)時(shí)，需檢查推拉式樣品架的定位碰珠是否磨損，或采用金屬活化劑清洗氧化觸點(diǎn)。光閘失效表現(xiàn)為T(mén)=100%無(wú)法調(diào)節(jié)，需檢查彈簧張力或清除異物卡阻。比色皿污染會(huì)導(dǎo)致紫外區(qū)吸光值異常，需用250nm波長(zhǎng)檢測(cè)空比色皿吸光值，確保其小于0.07Abs。

日常維護(hù)中，建議每周開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘，定期清潔密封窗及透鏡，使用石英比色皿并避免溶液濺入樣品室。環(huán)境濕度應(yīng)控制在60%以下，必要時(shí)配備穩(wěn)壓電源。故障排查應(yīng)遵循"先外后內(nèi)"原則，優(yōu)先檢查電源、連接線等外圍部件，再逐步深入光學(xué)系統(tǒng)。